說明:液體溫度沖擊試驗箱用于確定電子產品、組件、材料等在超高溫和超低溫油槽內溫度循環(huán)變化對產品的影響及產品性能變化。
1、 GB/T10589-2006 低溫試驗箱技術條件
2、GB/T11158-2006 高溫試驗箱技術條件
3、GB/T10592-2008 高低溫試驗箱技術條件
4、GB/T 2423.1-2001 試驗A:低溫試驗方法
5、GB/T 2423.2-2001 試驗B:高溫試驗方法
6、GJB 150.3A-2009高溫試驗
7、GJB 150.4A-2009低溫試驗
8、GJB150.5A-2009 軍用設備實驗室環(huán)境試驗方法
9、GB/T5170.2-2008電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數鑒定方法
溫度試驗設備
10GB/T 2423.22-2002 電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗N:溫度變化
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